工作中遇到的最大困难 工作中遇到的最大困难是什么,怎么解决的面试怎么回答
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大家好,今天小编关注到一个比较有意思的话题,就是关于xrd的工作原理的问题,于是小编就整理了3个相关介绍xrd的工作原理的解答,让我们一起看看吧。
XRD的测试原理,是Bragg方程,即nλ=2*d*sinθ,其中λ为入射线波长,d为晶面间距,θ为衍射角。换言之,XRD对于晶体结构的测试才是有效的。
XRD的基本原理:X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。
XRD 即X-ray diffraction 的缩写,X射线衍射,通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
SEM,EDS,XRD的区别,SEM是扫描电镜,EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪,是用来对材料微区成分元素种类与含量分析,配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。
XRD是X射线衍射仪,是用于物相分析的检测设备。
SEM用于观察标本的表面结构,其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品,在样品表面激发出次级电子,次级电子的多少与电子束入射角有关,也就是说与样 品的表面结构有关,次级电子由探测体收集,并在那里被闪烁器转变为光信号,再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度,显示出与电子束同步的扫描图像。
图像为立体形象,反映了标本的表面结构。
EDS的原理是各种元素具有自己的X射线特征波长,特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E,能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。
XRD是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。 说简单点,SEM是用来看微观形貌的,观察表面的形态、断口、微裂纹等等;EDS则是检测元素及其分布,但是H元素不能检测;XRD观察的是组织结构,可以测各个相的比例、晶体结构等。
X射线衍射仪(XRD)是从事材料、化工、化学、分析测试等研究的用户们常用的仪器设备之一,对物相的定性分析是其基本用途之一,那么你知道要如何用XRD数据进行物相定性分析吗?
首先让我们来简单了解下用XRD进行物相分析的基本原理。每种晶态物质都有其独特的X射线衍射图谱,二者之间存在一一对应的关系,物质不会因为与其它物质混合而引起衍射的变化,也就是说混合物中各物相的衍射互不干扰,彼此独立。因此混合物的衍射图谱不过是其各组成物质物相图谱的简单叠加,只需要将待检物相的衍射图谱与已知物相的衍射图谱进行比对,就可以鉴别出晶态物质的物相,对比工作往往需要借助物相定性分析卡片PDF。
物相定性分析卡片起源于1938年,几位科学家收集了1000种物质的衍射图,并以d-I数据组代替衍射花样,做了制备衍射数据卡片的工作。后来于1942年,“美国测试与材料协会”(ASTM)正式出版约1300张衍生数据卡片,开启了物相定性分析卡片的职业生涯。随着时间的推移,物相定性分析卡片也在不断流变,1969年粉末衍射标准联合委员会负责编辑和出版了JCPDS卡,后装订成册,称为PDF卡片(Powder Diffraction Files)。曾几何时,卡片的比对工作都是科学家们人工进行的,到那时随着计算机技术的发展,现如今科学家们已经可以让检索程序进行自动检索,而物相定性分析卡片也进化成电子版,目前学界最常用的是ICDD提供的电子版PDF卡片数据库。
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